Tagungsbericht der LANE 2020 Erlangen
In situ process monitoring by optical microphone for crack detection in Laser Metal Deposition applications (Englisch)
Authors: Contents:- Kontaktfreie Risserkennung im Laser Metal Deposition (LMD) Prozess in Zusammenarbeit mit AIMEN erfolgreich nachgewiesen
- XARIONs optisches Mikrofon Eta250 Ultra ermöglicht eine Echtzeit-Erfassung der Riss- und Prozesssignale des additiven Fertigungsverfahrens