半导体检测
XARION 独特的激光技术使得半导体元件的超声波无损检测（NDT）无需接触、水或耦合剂。XARION 的半导体检测设备可作为独立的桌面工具，适用于失效实验室和研发实验室的半导体测试，也可以集成至大规模生产线中，实现 100% 的质量控制。
桌面站提供两种操作模式：高速非接触成像模式和超快速单次质量控制模式。两种模式均可用于电子芯片的检测，通过非接触、无损检测的方式识别分层和其他内部缺陷。在成像模式下，可以精确定位并详细分析缺陷，而单次模式提供了无与伦比的速度，每秒可检测多达 1000 个组件。利用 XARION 的技术，不仅提升了失效分析的效率，还大幅提高了生产的可靠性！
特点：
- 紧凑且高度通用的桌面工具，或全自动化的在线检测系统
- 在线检测系统提供 100% 的客户安全记录
- 独特的非接触传感器技术，无需接触、水或耦合剂
- 不影响其他生产工序
- 高速成像模式，每秒多达 10000 个成像点
- 单次检测模式，每秒可检测 1000 个样品
- 可与线下非接触成像相结合，以进一步分析缺陷组件结合离线非接触成像，对有缺陷零件作进一步分析成为可能