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Applikationen für automatisierte Ultraschallinspektion

XARIONs einzigartiges Optisches Mikrofon ermöglicht innovative Lösungen im Bereich der Ultraschallprüfung, der akustischen Prozessüberwachung und der Schallfeldcharakterisierung. Für industrielle Produktionsanwendungen bietet XARION umfassende Systemlösungen zur berührungslosen akustischen Überwachung und Ultraschallprüfung.

In der Prozessüberwachung ermöglicht das Optische Mikrofon die Echtzeit-Erkennung von Abweichungen in Fertigungsprozessen wie dem Laserschweißen, -strukturieren und -schneiden oder additiven Fertigungsverfahren (LPBF, WAAM, DED) und eignet sich auch zur akustischen Erkennung von Rissereignissen.

Das Ultraschallprüfverfahren von XARION gewährleistet eine zuverlässige zerstörungsfreie Prüfung, unabhängig von Größe, Material oder Oberflächenbeschaffenheit des Prüfobjekts. Das macht das Verfahren für eine Vielzahl von Anwendungen in der Luft- und Raumfahrt, der Automobilindustrie, der Elektronik- oder der Halbleiterfertigung einsetzbar. Der laserbasierte und kontaktfreie Prüfansatz unterscheidet die Technologie von herkömmlichen Ultraschallverfahren, die Koppelgel oder Wasser benötigen. Dadurch eignet sich die Methode auch für Anwendungen, bei denen die herkömmliche Ultraschallprüfung nicht praktikabel ist und erlaubt einfache Umsetzung von vollautomatisierten zfP Prüfanlagen und Systemen zur 100% Inline-Prüfung. XARIONs zfP-Verfahren ermöglicht unübertroffenen Prüfdurchsatz und höchste Präzision bei oft deutlich reduzierten Prüfkosten.

Zerstörungsfreie Materialprüfung (zfP)

  • Robotergesteuerte Schweißpunktprüfung ohne Koppelmittel
  • Qualitätsprüfung von Kohlefaserverbundwerkstoffen (CFK)
  • Berührungslose End-of-Line-Prüfung

Echtzeit-Prozessüberwachung

  • Akustische Qualitätsüberwachung für die Laser-Materialbearbeitung
  • Echtzeit-Überwachung von additiven Fertigungsprozessen
  • Intelligente In-Line-Überwachung von Produktionslinien und Maschinen

Ultraschallmessungen

  • Schallfeldcharakterisierung
  • Messungen in elektromagnetischen Störfeldern
  • Charakterisierung von Ultraschallquellen